眾所周知(zhi)(zhi)，汽車(che)供電(dian)(dian)系統輸出極其復雜，電(dian)(dian)磁閥、大(da)電(dian)(dian)流馬達等(deng)各(ge)種元件極其容易導致供電(dian)(dian)電(dian)(dian)壓輸出發生波(bo)動(dong)、大(da)電(dian)(dian)壓脈沖或(huo)跌落現(xian)象(xiang)頻(pin)繁發生，給(gei)汽車(che)電(dian)(dian)子(zi)產(chan)(chan)品(pin)(pin)能(neng)否穩(wen)定工作帶來(lai)了(le)巨大(da)的挑戰，尤其是ABS控制器電(dian)(dian)路、安全(quan)氣囊(nang)控制器電(dian)(dian)路等(deng)與安全(quan)息息相關(guan)的電(dian)(dian)子(zi)產(chan)(chan)品(pin)(pin)。要(yao)知(zhi)(zhi)道，非正常電(dian)(dian)壓波(bo)動(dong)會造成(cheng)這些產(chan)(chan)品(pin)(pin)的CPU或(huo)者其他芯片(pian)進入(ru)重啟、鎖死或(huo)未知(zhi)(zhi)狀態，直接帶來(lai)安全(quan)問題。那么(me)，問題來(lai)了(le)，在(zai)車(che)載電(dian)(dian)子(zi)產(chan)(chan)品(pin)(pin)量產(chan)(chan)上市前(qian)，如何通過實驗(yan)模仿出實際供電(dian)(dian)系統中可能(neng)會出現(xian)的瞬變(bian)浪涌(yong)過電(dian)(dian)壓現(xian)象(xiang)，以(yi)便能(neng)夠及時發現(xian)產(chan)(chan)品(pin)(pin)在(zai)可靠性方(fang)面存在(zai)的隱患(huan)問題？

目前(qian)，ISO 7637-2和(he)ISO 16750-2是(shi)汽(qi)車電子行業中最主流的兩個(ge)統一測試(shi)標(biao)準(zhun)(zhun)。電子工程師可以按(an)照ISO 7637-2和(he)ISO 16750-2測試(shi)標(biao)準(zhun)(zhun)在(zai)實(shi)驗(yan)(yan)室里面測試(shi)，并判斷車載(zai)產品能否達到(dao)要(yao)求。關于ISO 7637-2測試(shi)標(biao)準(zhun)(zhun)，東沃(wo)電子DOWOSEMI之前(qian)就科普(pu)過了，在(zai)這里就不再詳述(shu)了。接(jie)下(xia)來，重點詳述(shu)IS0 16750-2標(biao)準(zhun)(zhun)，ISO 16750標(biao)準(zhun)(zhun)（道路車輛 電氣及電子設(she)備(bei)的環(huan)境條件(jian)和(he)試(shi)驗(yan)(yan)）的第二部(bu)分(fen)：電氣負載(zai)，目前(qian)最新(xin)版本更新(xin)至2012版，適合12V和(he)24V系統。

ISO 16750-2測試(shi)標準(zhun)和要求(qiu)如下：

1）通用（General）：定義了(le)時(shi)間/頻率、電壓及電阻值默認的誤(wu)差。

2）直流(liu)供(gong)電電壓（Direct current supply voltage）測試：驗(yan)證最大(da)、最小電壓下全功能是否符合設計。

3）過電(dian)壓（Overvoltage）測試(shi)：模擬汽車發(fa)電(dian)機(ji)調節器損壞(huai)，導致(zhi)供電(dian)電(dian)壓上升情況下功能是否符合設計。

4）疊加(jia)交(jiao)流(liu)電(dian)壓(ya)(ya)（Superimpose d alternating voltage）測試(shi)：模擬汽車(che)供電(dian)電(dian)壓(ya)(ya)中殘(can)留交(jiao)流(liu)電(dian)壓(ya)(ya)時的情況下功能(neng)是否符合設(she)計。

5）電(dian)(dian)壓(ya)慢速(su)下(xia)(xia)降及上升測試(shi)（Slow decrease and increase of supply voltage）：模擬蓄(xu)電(dian)(dian)池在慢速(su)放電(dian)(dian)和充(chong)電(dian)(dian)的情況下(xia)(xia)功能是(shi)否符合設計。

6）電(dian)(dian)壓斷續（Discontinuities in supply voltage）測試(shi)：包含瞬態跌落電(dian)(dian)壓（Momentary drop in supply voltage）、電(dian)(dian)壓跌落時復位(wei)行(xing)為（Reset behaviour at voltage drop）、啟動(dong)測試(shi)（Starting profile）、拋負載(zai)（Load dump）四種情況下功能是否符合設計(ji)。

7）電壓反極性（Reversed voltage）測試：模擬在使用輔助啟動設備時，電極極性反接的情況下功能是否符合設計。

8）接地(di)參考(kao)及電源(yuan)偏(pian)移(yi)（Ground reference and supply offset）測試：對存在多路(lu)供(gong)電通路(lu)的被測件，模擬多路(lu)供(gong)電的地(di)或電源(yuan)發生偏(pian)移(yi)的情況下功能是否(fou)符合設計。

9）開路(lu)（Open circuit tests）測試(shi)：模擬PIN腳開路(lu)情況下(xia)功能是(shi)否(fou)符(fu)合(he)設計。

10）短(duan)路保護(hu)（Short circuit protection）測試：模(mo)擬輸(shu)入輸(shu)出(chu)PIN腳短(duan)路情(qing)況(kuang)下功能是否符合(he)設計。

11）耐壓（Withstand voltage ）測試：確保電介質的(de)絕緣耐壓能力。

12）絕(jue)緣(yuan)電(dian)阻（Insulation resistance）測試：確(que)保(bao)避免DUT的(de)絕(jue)緣(yuan)電(dian)路和傳(chuan)導部件間的(de)電(dian)流所必(bi)須的(de)最小(xiao)阻抗，用于檢驗(yan)系統和材料的(de)絕(jue)緣(yuan)特性。

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